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首頁(yè)>>麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>粒度表征

  • 全自動(dòng)亞篩分粒徑分析儀 參考價(jià):面議

    MIC SAS II全自動(dòng)亞篩分粒徑分析儀采用空氣滲透法測(cè)試顆粒粒徑,全自動(dòng)操作,并可得到電子記錄的數(shù)據(jù),改善了FSSS的性能。
    型號(hào): SAS II 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對(duì)比
    亞篩分粒徑分析儀美國(guó)麥克儀器費(fèi)氏粒徑儀亞篩分粒徑分析儀
    2024/7/11 13:03:223059
  • 全自動(dòng)Χ光沉降粒度分析儀 參考價(jià):面議

    新一代的全自動(dòng)Χ光沉降粒度分析儀 SediGraph III PLUS將成熟的SediGraph分析技術(shù)與檢測(cè)儀器功能相結(jié)合,提供重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 Se...
    型號(hào): SediGraph... 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對(duì)比
    粒度分析儀粒度分析沉降粒度分析儀Χ光沉降粒度分析儀
    2024/7/11 12:45:103719

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